Die Halbleiterprüfung ist ein entscheidender Schritt zur Sicherstellung von Ausbeute und Zuverlässigkeit im gesamten Herstellungsprozess integrierter Schaltkreise. Wissenschaftliche Kameras spielen als zentrale Detektoren eine entscheidende Rolle – ihre Auflösung, Empfindlichkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit wirken sich direkt auf die Fehlererkennung im Mikro- und Nanobereich sowie auf die Stabilität von Prüfsystemen aus. Um den unterschiedlichsten Anwendungsanforderungen gerecht zu werden, bieten wir ein umfassendes Kameraportfolio – von großformatigen Hochgeschwindigkeitsscannern bis hin zu fortschrittlichen TDI-Lösungen, die häufig in der Wafer-Fehlerprüfung, Photolumineszenzprüfung, Wafer-Messtechnik und Verpackungsqualitätskontrolle eingesetzt werden.